System testu życia zintegrowanego obsługi obwodu
HTOL System testowy zintegrowanej obsługi obwodu
1
Jedna tablica, jedna strefa, może spełniać jednoczesne wypalenie 8 urządzeń o różnych parametrach testowych.
2
Konfigurowalny system generowania grafiki odpowiedni do dynamicznego wypalania wzbudzenia, testowania łańcucha skanowania i wbudowanego samooceny.
|
System testu życia zintegrowanego obsługi obwodu |
||
|
Model produktu |
Gk-ichtol -2000 |
Gk-icltol -800 |
|
Zakres aplikacji |
Nadaje się do testowania życia roboczego i dynamicznego przesiewowego opakowania w wysokiej temperaturze różnych form cyfrowych, analogowych i mieszanych cyfrowych analogowych obwodów zintegrowanych, w tym mikroprocesorów, obwodów logicznych, urządzeń programowalnych, pamięci, A/D, D/A i innych urządzeń. |
|
|
Cechy |
1, jedna tablica, jedna strefa, może spełniać jednoczesne wypalenie 8 urządzeń o różnych parametrach testowych. 2, konfigurowalny system generowania grafiki odpowiedni do dynamicznego wypalania wzbudzenia, testowania łańcucha skanowania i wbudowanego aut testowania. |
|
|
Pojemność testowa |
40×16=640 |
40×8=320 |
|
Podstawowa funkcja |
Monitorowanie w czasie rzeczywistym prądu testowego każdego produktu, z prądem 4 0 w każdym szczelinie. Obecny zakres wykrywania każdego kanału wynosi 0-600 MA, z rozdzielczością 0,1 mA. Gdy urządzenie testowe wymaga większego prądu, wiele kanałów można podłączyć równolegle, a jedno urządzenie można zapewnić maksymalny prąd 24A; |
|
|
Wymiary zewnętrzne |
W1400MMхH1950MMхD 150 0 mm |
1800 mm (w) × 1500 (d) mm × 2000 mm (h) |
|
Waga |
Około 600 kg |
Około 700 kg |
